Eksempel: Præcis og hurtig opmåling af lagtykkelse f.eks. Au/Pd/Ni-belægninger ovenpå materialet CuFe2 (CDA195), hvilket er almindeligt mht. lead frames (elektronik komponent). Guldlaget er typisk 3-10 nm og palladiumlaget er typisk 10-100 nm tykt (eller tyndt…). Skanning med henblik på bestemmelse af belægningernes homogenitet er også en mulighed.
Opnå meget præcise opmålinger selv ved belægningstykkelser under 10 nm med XRF-metoden.
Flere XRF instrumenter fra Helmut Fischer kan imødegå alle krav fra IPC-4552-B.
