Opmåling af wafer og halvleder

Produkter

Røntgenudstyr

Eksempel: Overgange fra SnPb til SnAgCu lodning har medført et stort behov for præcis bestemmelse af kompositionen af loddematerialet (spot). Kompositionen skal fastholdes meget præcist af hensyn til lodbarhed og mekaniske egenskaber. Loddespots har typisk en diameter på 50 µm, og derfor kræves en meget stor præcision i forbindelse med positionering. Hvis sølv-indholdet er større end 3% i et loddespot er modstandsdygtigheden stor i en termisk test og det samme er modstandsdygtigheden over for den plastiske deformation. Legeringer med mindre sølv (f.eks. ca. 1%) vil derimod udvise suveræn duktilitet og derfor langt bedre udholdenhed under alvorlige belastningsforhold. Et indhold på blot 0,5% kobber kan mindske opløsningen af kobberunderlaget (og dermed diffusion op igennem loddematerialet), hvilket øger lodbarheden.

FISCHERSCOPE XDV-µ anvender poly-kapillær optik samt en SDD detektor – og kan bringes til præcis positionering (fokusering) på 20 µm måleområde og stadigvæk opretholde høje countrates, hvilket er nødvendigt for at opnå stor målepræcision og reproducerbarhed. Verifikation af blyfrit materiale samt bestemmelse af legeringssammensætning i loddespot.