FISCHERSCOPE® X-RAY 5000-systemet måler kontinuerligt lagtykkelsen af tynde lag på store overflader, f.eks. I solceller. Enhederne i denne serie danner modulære enheder, der er nemme at installere i produktionslinjer. X-RAY 5000 kan betjenes enten i normal atmosfære eller under vakuum. XRF-enheden er desuden designet til at være let at vedligeholde: målehovedet kan serviceres uden at frigøre vakuumet.
Hvis produktet bevæger sig eller bukker ud under fremstillingen, kan det vride måleresultaterne. Af denne grund har Fischer’s WinFTM-software også en indbygget funktion til afstandskompensation, som kan kompensere for udsving på op til 1 cm uden yderligere afstandssensorer.
