FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® er det bedste røntgenfluorescensmåleinstrument i XDL-serien. Ligesom sine ‘små brødre’ måler dette XRF-instrument fra top til bund, hvilket gør testning af selv underligt formede prøver nemme og bekvemme. For at optimere måleforholdene til din opgave leveres FISCHERSCOPE X-RAY XDAL med udskiftelige kollimatorer og filtre som standardudstyr.

Jo mere krævende måleopgaven, jo vigtigere er detektortypen! FISCHERSCOPE X-RAY XDAL tilbyder derfor 3 forskellige halvlederdetektorer.

PIN-dioden af ​​silicium er en detektor i mellemområdet og velegnet til måling af flere elementer over et relativt stort måleområde. Når den er udstyret med en PIN-kode, bruges XDAL ofte til inspektion af hårde belægninger.

SDD (Silicon Drift Detector) af høj kvalitet tilbyder bedre energiopløsning end silicium PIN-dioden. Således udstyrede XDAL-spektrometre bruges til at løse komplekse måleopgaver i elektronikindustrien: for eksempel XRF-måling af tynde legeringer eller materialeanalyse af meget lignende elementer såsom guld og platin. Dette er det pålidelige XRF-instrument til kvalitetskontrol med ENIG- og ENEPIG-applikationer.

Til særligt hårde udfordringer tilbyder Fischer også en SDD med en ekstra stor detektoroverflade. Styrken af ​​denne detektor ligger i dens evne til pålideligt at måle lag ned til området på få nanometer og til at foretage sporeanalyse i området pr. Mill. Med disse XDAL-enheder kan du teste blyindholdet i sælgere beregnet til applikationer med høj pålidelighed for at undgå tinhår.

Datablad

X-ray serien brochure