Måling af XRF-filmtykkelse XDV®-SDD er en af de mest kraftfulde røntgenfluorescensanalysatorer i Fischer-porteføljen til måling af filmtykkelse. Dette XRF-spektrometer er udstyret med en særlig følsom siliciumdrivdetektor (SDD).
Dette giver dig mulighed for at måle selv de tyndeste lag ikke-destruktivt – f.eks. guldbelægninger ca. 2 nm tykke på blyrammer.
Samtidig er XDV-SDD perfekt egnet til ikke-destruktiv materialeanalyse. For eksempel er dens detektionsfølsomhed for spor af bly i plast ca. 2 ppm – flere størrelsesordener lavere end de værdier, der kræves af RoHS eller CPSIA.
For at du kan skabe de ideelle betingelser for hver XRF-filmtykkelsesmåling, har XDV-SDD udskiftelige kollimatorer og primære filtre, som muliggør arbejde på et videnskabeligt niveau.
Den ekstremt robuste enhed er ikke desto mindre nem at betjene og er designet specielt til serietests i industriel brug. Funktioner som det automatisk udvidede målestadium og det levende billede af målesiden gør dit daglige arbejde lettere.
