FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

Categories: , , , , , , , , Tag:

Disse modeller er i den grundlæggende opbygning som XDL modellerne – men dog mere avanceret pga. detektor, collimator og filtre.

PIN detektor udgaven anvendes ofte til analyse af hårdmetal belægninger.

SDD detektorer anvendes til mere komplicerede måleopgaver – tynde belægninger, adskillelse af meget ens komponenter (Au og Pt), elektronik (ENIG/ENEPIG) og sporstofanalyse.

Datablad

X-ray serien brochure 

Features

  • XRF målinger iht. ISO 3497. Automatiserede målinger også under 0.05 µm i belægningstykkelse og materialeanalyse i ppm området
  • Tre detektormuligheder: PIN – SDD 20 mm2 – SDD 50 mm2
  • 4 Forskellige collimatorer
  • 3 Forskellige primære filtre
  • Mindste målespot 0.15 mm
  • Emne højde op til 14 cm
  • Programmerbart bord med høj præcision (10 µm)
  • DCM giver mulighed for måling ved forskellige måledistancer
  • Åbning muliggør opmåling af store PCB
  • Typegodkendt, certificeret og sikkert Instrument

Applikationer

  • Materialeanalyse i relation til belægninger og materialer
  • Elektronik ENIG/ENEPIG
  • Connectorer og kontakter
  • Guld, smykker og ure
  • Tynde guld og palladium belægninger (få nm) på PCB
  • Analyse af sporstoffer
  • Detektion af bly (Pb) i komponenter til ”High Reliability” applikationer (f.eks. fly, space, militær etc.) for at undgå tin-whisker dannelse
  • Analyse af hårdmetal belægninger

Related products